10月25日,受我校研究生院和材料科學(xué)與工程學(xué)院邀請,法國國家科學(xué)院-材料結(jié)構(gòu)分析中心Philippe Sciau教授作客我校未央導(dǎo)師論壇,為材料學(xué)院及相關(guān)專業(yè)的師生做了精彩的學(xué)術(shù)報告。
Philippe Sciau教授的報告主要圍繞透射電子顯微鏡(TEM)具有多種成像模式,可以在納米尺度上獲得材料的結(jié)構(gòu)和化學(xué)信息,可以廣泛應(yīng)用于多種科學(xué)領(lǐng)域。本次報告主要介紹TEM在古代陶瓷材料分析中的應(yīng)用。Philippe Sciau教授詳細介紹了制備古代陶瓷的TEM樣品的方法,包括傳統(tǒng)離子減薄和原位制樣(FIB),并且列舉了若干例子生動地介紹TEM明場像和衍射圖像、能量損失譜、晶體取向成像以及STEM和EDX圖譜在陶瓷分析中的應(yīng)用。
(核稿:王卓 編輯:劉倩 學(xué)生編輯:張文萍 譚靜)